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光谱仪 X荧光光谱仪
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产品简单介绍
能量色散X荧光光谱仪EDX8000(钢铁、陶瓷行业专用)
EDX8000
詳細說明 技術指標: 分析精度:0.05% 分析範圍:1PPM-99.9% 測量元素:從硫至鈾等75種元素 測量對象:粉末 固體 液體 分析電鍍溶液中的金屬離子濃度 可分析10層以上的鍍層 測試鍍層最薄至0.005um 步進最小距離:0.01mm 測量時間:60-300秒 工作溫度:15-30攝氏度 相對濕度:小於等於70% 重量:30kg 工作電壓:AC 110v/220v
能量色散X荧光光谱仪EDX3000D天瑞(中国)仪器有限公司-上海办事处
EDX3000D
采用国际上先进的由美国生产的半导体制冷的最新型探测器,电制冷,无需液氮制冷,可常温保存,使用方便。同时这款探测器内置信噪比增强器,提高了仪器精度和检出下限,金属的有害物质检出限比原有探测器高出近5倍。
能量色散X荧光光谱仪EDX3600B
EDX3600B
备真空腔和高性能真空泵,全自动真空控制系统,使真空测试过程更加智能化 镀层厚度测量精确至0.005微米
X荧光光谱仪EDX6600
EDX6600
技术参数 一、技术指标: 二、配 置: 分析范围:1PPM~99.99% 测量元素:从钾至铀等60多种元素 工作温度:15---30℃ 重 量:30公斤 电 源:AC 110V/220V 测量时间:60~300秒 测量精度:0.05%
X荧光光谱仪EDX3600L
EDX3600L
技术参数 技术指标: 分 析 范 围: 1PPM-99.99% 同 时 分 析: 几十种元素同时分析 测镀层厚度精确至0.01微米 测 量 对 象: 固体、粉未、液体 测 量 时 间: 60-300 秒 测 量 精 度 : 0.05% 分 析 元 素: Na-U 工 作 温 度: 15-26℃ 相 对 湿 度: ≤70% 重 量 : 80KG 功 耗: 200瓦
X荧光光谱仪EDX6000
EDX6000
技术参数 技术指标: 分 析 范 围: 1PPM-99.99% 同 时 分 析: 几十种元素同时分析 测镀层厚度精确至0.01微米 测 量 对 象: 固体、粉未、液体 测 量 时 间: 60-300 秒 测 量 精 度 : 0.05% 分 析 元 素: Na-U 工 作 温 度: 15-26℃ 相 对 湿 度: ≤70% 重 量 : 100KG 功 耗: 200瓦
X荧光光谱仪EDX3600
EDX3600
技术参数 技术指标: 分 析 范 围: 1PPM-99.99% 同 时 分 析: 几十种元素同时分析 测镀层厚度精确至0.01微米 测 量 对 象: 固体、粉未、液体 测 量 时 间: 60-300 秒 测 量 精 度 : 0.05% 分 析 元 素: Na-U 工 作 温 度: 15-26℃ 相 对 湿 度: ≤70% 重 量 : 80KG 功 耗: 200瓦
X荧光光谱仪WDX1000
WDX1000
主要特点 技 术 指 标: 分析元素: Na、Mg、Al、Si、S、K、Ca、Fe 分析精度: 0.05% 分析含量范围:1PPM-99.99% 适合分析的领域:水泥、钢铁、陶瓷等. 适合分析的样品:粉末、固体、液体、熔融片. 体 积:150*70*120cm 功 率:2千瓦
X荧光光谱仪EDX2800
EDX2800
产品信息 针对RoHS检测设计开发 测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br 也可以测量镀层厚度 ROHS指令检测主要技术指标 ※. 分析精度:0.05% ※. 样品室尺寸:1000*1000*300MM ※. 测量时间:60-300秒 ※. 工作电源:220U±5U ※. 高 压:15-50KV ※. 管 流:600μA ※. 计数率:1300-8000Cps ※. ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM ※. 检测时间为200秒 ※. 电致冷硅针半导体探测器 ※. 加强金属元
能量色散X荧光光谱仪EDX8000(钢铁、陶瓷行业专用)
EDX8000
詳細說明 技術指標: 分析精度:0.05% 分析範圍:1PPM-99.9% 測量元素:從硫至鈾等75種元素 測量對象:粉末 固體 液體 分析電鍍溶液中的金屬離子濃度 可分析10層以上的鍍層 測試鍍層最薄至0.005um 步進最小距離:0.01mm 測量時間:60-300秒 工作溫度:15-30攝氏度 相對濕度:小於等於70% 重量:30kg 工作電壓:AC 110v/220v
能量色散X荧光光谱仪EDX3000D天瑞(中国)仪器有限公司-上海办事处
EDX3000D
采用国际上先进的由美国生产的半导体制冷的最新型探测器,电制冷,无需液氮制冷,可常温保存,使用方便。同时这款探测器内置信噪比增强器,提高了仪器精度和检出下限,金属的有害物质检出限比原有探测器高出近5倍。
能量色散X荧光光谱仪EDX3600B
EDX3600B
备真空腔和高性能真空泵,全自动真空控制系统,使真空测试过程更加智能化 镀层厚度测量精确至0.005微米
能量色散X荧光光谱仪3000B
EDX3000B
针对RoHS检测设计开发 测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br 也可以测量镀层厚度
能量色散X荧光光谱仪EDX3000C
EDX3000C
专门为RoHS检测推出的新款仪器 在EDX3000B的基础上,增加了准直器和滤光片自动切换功能,使仪器更具智能化,人性化
能量色散X荧光光谱仪600
EDX600
专测镀层厚度,性价比高!
EDX6000B X荧光光谱仪
EDX6000B
EDX6000B是公司08年推出的一款全新的全元素分析仪器,专注于水泥、钢铁、有色金属、矿料分析及RoHS检测等。X射线发生器性能良好,指标达到国际先进水平。仪器测试结果符合国家标准,性能价格比高。专为冶金、建材行业设计。
能量色散X荧光光谱仪Thick 800
Thick 800
产品说明、技术参数及配置 Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定,它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计,而是采用上照式,通过三维的移动和激光定位,实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量 应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和首饰加工行业;银行、首饰销售和检测机构;电镀行业。 技术指标:元素分析范围:从K到U一次性可同时分析多层镀层分析厚度检测出限最高达0.01um同时可分析多达5层以上镀层相互独立的基体效应校正模型,最先进厚度分析方法多次测量重复性最高
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