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	镀层测厚仪EDX660 EDX660	技术指标: 分析范围 :30%---99.99% 测量时间 :60---300 秒 测量精度 :0.1% 测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt 重 量 :30KG 尺 寸 :350*500*400mm X射线源 :X射线光管。 探测器 :正比计数管
	镀层测厚仪EDX600 EDX600	一.原理分析 X-射线是以一种电磁辐射的形式存在。和可见光一样，而其能量却是后者的5000倍或更大。如同可见光，X-射线是由原子内部所产生的，与光不同之处为他们发自于轨域的最内部。此类的射线称之为X-射线荧光辐射，其能量依不同的发射物质而定。 原子是由原子核及包围它的电子构成，电子的数目与构成核子的带正电质子数目相同，从外表看来，原子在电管上为中性，电子在核外依一定的轨道运行，轨道中最靠近原子核的称为K轨道，顺次往外的轨道为L,M,N等轨道，若将一个电子从原子中移开，则一定花费一定的能量。此种能量是愈近原子核所需的能量愈大。为了说明此点可由能阶图表示。
	镀层测厚仪EDX8000 EDX8000	詳細說明 技術指標： 分析精度：0.05% 分析範圍：1PPM-99.9% 測量元素：從硫至鈾等75種元素 測量對象：粉末 固體 液體 分析電鍍溶液中的金屬離子濃度 可分析10層以上的鍍層 測試鍍層最薄至0.005um 步進最小距離：0.01mm 測量時間：60-300秒 工作溫度：15-30攝氏度 相對濕度：小於等於70% 重量：30kg 工作電壓：AC 110v/220v
	镀层测厚仪Thick 800 Thick 800	Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量 应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。
	镀层测厚仪EDX3000C EDX3000C	专门为RoHS检测推出的新款仪器 在EDX3000B的基础上，增加了准直器和滤光片自动切换功能，使仪器更具智能化，人性化
	镀层测厚仪EDX3000B EDX3000B	针对RoHS检测设计开发 测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br 也可以测量镀层厚度
	镀层测厚仪EDX3000D EDX3000D	采用国际上先进的由美国生产的半导体制冷的最新型探测器，电制冷，无需液氮制冷，可常温保存，使用方便。同时这款探测器内置信噪比增强器，提高了仪器精度和检出下限，金属的有害物质检出限比原有探测器高出近5倍。可用于玩具安全检测。
	镀层测厚仪EDX2800 EDX2800	针对RoHS检测设计开发 测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br 提供专业玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析

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