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镀层测厚仪EDX660

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产品名称: 镀层测厚仪EDX660
产品型号: EDX660
产品展商: 天瑞（中国）仪器有限公司
简单介绍
技术指标: 分析范围 :30%---99.99% 测量时间 :60---300 秒 测量精度 :0.1% 测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt 重 量 :30KG 尺 寸 :350*500*400mm X射线源 :X射线光管。 探测器 :正比计数管


镀层测厚仪EDX660的详细介绍

仪 器 配 置：

单样品腔
正比计数器
放大电路
高低压电源
X光管



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天瑞（中国）仪器有限公司
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