配置： 單樣品腔 電腦、噴墨印表機 硅針半導體探測器 放大電路 高低壓電源 X光管 雙鐳射定位系統 50至100倍物體放大
這款儀器可以精確逐點測試被測對象，並給出完整的含量和鍍層的平面分析圖譜。EDX8000在進行ROHS檢測時，會根據測量數據繪製相應的三維圖像。並通過三維坐標軸全面地表示出測量範圍內對應各個位置的有害元素含量（或鍍層厚度）。同時EDX8000面式數據輸出，使操作者可以十分及時、直觀地觀察到測量結果。儀器還可以獨立地對各個檢測點的數據結果進行綜合分析，並將結果顯示出來。