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X荧光光谱仪EDX2800

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产品名称: X荧光光谱仪EDX2800
产品型号: EDX2800
产品展商: 天瑞（中国）仪器有限公司
简单介绍
产品信息 针对RoHS检测设计开发 测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br 也可以测量镀层厚度 ROHS指令检测主要技术指标 ※. 分析精度：0.05% ※. 样品室尺寸：1000*1000*300MM ※. 测量时间：60-300秒 ※. 工作电源：220U±5U ※. 高 压：15-50KV ※. 管 流：600μA ※. 计数率：1300-8000Cps ※. ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM ※. 检测时间为200秒 ※. 电致冷硅针半导体探测器 ※. 加强金属元素感度分析