技术指标: 分析范围 :1PPM---99.99% 测量时间 :60---300 秒 分析精度 :0.1%---99.99% 测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt 测镀层厚度、精度：0.03um 重 量 :30KG 尺 寸 :350*500*400mm X射线源 :X射线光管。 探测器 :正比计数管
仪 器 配 置：
单样品腔 正比计数器 放大电路 高低压电源 X光管